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福建非饱和高压加速老化试验机用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验！随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的罢贬叠试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多.为了提高试验效率、减少试验时间。
更新时间:2025-07-03
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更新时间:2025-07-03